Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: Учеб. пособие

Арт:0207-Ф
Магазин на Бутлерова: В наличии
243 Р ×
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгено-структурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов, качества изготовленных их них материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов, аспирантов и преподавателей технических вузов.
Автор
Издательство "ФЛИНТА"
Дата издания 2007
Кол-во страниц 224
ISBN 978-5-9765-0207-9
Тематика Технические науки
Вес книги 0.315 кг

Категории: Математика, физика, технические науки